专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]白术叶面无损估算系统-CN202011164999.5在审
  • 王华;张美德;周武先;蒋小刚;郭坤元;何银生;刘海华 - 湖北省农业科学院中药材研究所
  • 2020-10-27 - 2021-02-09 - G06K9/62
  • 本发明实施例提供一种白术叶面无损估算系统,包括:获取白术叶的叶片参数;获取所述白术叶的叶面系数;根据所述叶片参数和所述叶面系数计算所述白术叶的估算叶面;其中,所述叶面系数是通过所述白术叶面估算模型训练得到的本发明实施例提供的一种白术叶面无损估算系统,通过研究白术不同叶形的叶面系数,旨在建立准确、快速、无损叶面估算模型;本发明利用异速生长法测定白术单叶不同叶形叶面系数,并对单叶和羽状复叶的实测叶面与估算叶面进行线性拟合,验证叶面系数值对白术叶面估算的适用性及准确性,可以准确、快速、无损的估算白术叶面,为白术生理生化、遗传育种及高效栽培研究提供借鉴。
  • 白术叶面积无损估算系统
  • [发明专利]一种叶面指数精度的优化方法和装置-CN202111000217.9有效
  • 王昊;王宇翔;梁碧苗;廖通逵;周晓媛;周永伟;魏纬 - 航天宏图信息技术股份有限公司
  • 2021-08-30 - 2021-12-07 - G06T7/00
  • 本发明提供了一种叶面指数精度的优化方法和装置,涉及数据处理的技术领域,包括:获取待优化区域的多个初始叶面指数图像和质控数据,其中,多个初始叶面指数图像用于表征待优化区域在不同时间的叶面指数;基于质控数据,对多个初始叶面指数图像进行修正,得到多个目标叶面指数图像;基于多个目标叶面指数图像,构建待优化区域中像素点的叶面指数集,其中,叶面指数集包括待优化区域中多个像素点在多个目标叶面指数图像中的叶面指数;利用Whittaker Smoother算法,对待优化区域中像素点的叶面指数集进行平滑处理,得到待优化区域的叶面指数平滑处理结果,解决了现有叶面指数精度的优化方法的误差和效率较低的技术问题。
  • 一种叶面积指数精度优化方法装置
  • [发明专利]叶面指数的测定方法-CN201010136947.7无效
  • 范文义;李明泽;杜春雨;于颖;毛学刚;鲍晨光 - 东北林业大学
  • 2010-03-31 - 2010-07-28 - G01B21/28
  • 叶面指数的测定方法,它属于生态学研究领域。本发明解决了现有技术存在LAI-2000测定叶面指数的准确率低、收获法测定叶面指数的劳动强度大和效率低的问题。本发明方法如下:一、将LAI-2000植物冠层分析仪放置在距边缘>3.5m处,于10:00~14:00、光线强度8000~10000Lux、风速<7级空气湿度10%~90%条件下进行测量;二、获取有效叶面指数;三、将有效叶面指数带入阔叶林的叶面指数=1.5457×有效叶面指数-0.0414或针叶林叶面指数=0.9651×有效叶面指数+0.4115;即完成了叶面指数的测定。
  • 叶面积指数测定方法
  • [发明专利]一种温室作物叶面指数的计算方法-CN201910367568.X有效
  • 葛建坤 - 华北水利水电大学
  • 2019-05-05 - 2020-10-13 - G01B21/28
  • 本发明涉及温室作物领域,具体涉及一种温室作物叶面指数的计算方法,将每株作物按高度由上到下分为顶层、中层和底层,每次测量时分别记录各层的叶片总数;选取各层中叶片最大者和叶片最小者分别进行特征长度的测量,分别计算每一层中叶片最大者的叶面以及叶片最小者的叶面,从而得出叶面平均值,将叶面平均值作为该层叶片特征的代表叶面;将各层的代表叶面与该层的叶片总数的乘积值累加起来便可得到单株作物叶面总量,即可求取作物的叶面指数,通过本发明得到的叶面拟合值与实际值拟合非常高,求取的叶面指数精确度高,测量过程操作简单,仪器使用及人工成本低。
  • 一种温室作物叶面积指数计算方法

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